Inspection à rayons X

La tomographie ouvre de nouvelles perspectives pour les applications industrielles en mesurant un volume dans son intégralité. La technologie non destructive à rayons X Zeiss permet de capturer des nuages de points de haute précision. On peut mesurer, analyser et inspecter les défauts cachés et les structures internes qui ne peuvent pas être détectés avec des machines de mesure de tridimensionnelle. En scannant toutes les structures internes et externes, avec des systèmes de tomographie assistée par ordinateur (CT), les pièces peuvent être reproduites, même si aucun modèle CAO n’est disponible.

Depuis douze ans, la famille Zeiss Metrotom propose une technologie de tomographie assistée par ordinateur fiable, pour le contrôle de la qualité. Elle permet d’analyser de nombreuses caractéristiques d’une pièce en un seul cycle. Les mesures qui en résultent sont précises et traçables.

Avec l’acquisition et l’intégration des technologies GOM et Bosello, Zeiss offre une gamme complète de solutions à rayons X (Metrotom, Bosello, VoluMax, Calypso, Neo Insights, Xrdia…).